中央光學出版舉辦利用PatSnap Analytics的專利檢索競賽工作坊

中央光學出版株式會社（總部：東京都江東區；代表董事：矢野宏；以下簡稱中央光學出版）將於2026年6月5日在日比谷圖書文化館舉辦「利用PatSnap Analytics的專利檢索競賽工作坊」，此活動獲得PatSnap Analytics供應商PatSnap公司的支援。本次工作坊的對象為專利檢索競賽的參與者及考慮參與的人士。

作為PatSnap產品在日本國內的正規經銷商，中央光學出版提供專利檢索與調查相關工具，並提供利用支援服務。

本次工作坊限額20人，採實體形式舉辦，內容著重於專利檢索方法和專利檢索條件設計理念。

參加者將獲得PatSnap Analytics的免費試用ID，並可透過實際操作畫面確認檢索流程。

【限額20名】以檢索方法為中心的實體工作坊

本次工作坊將向所有參加者提供PatSnap Analytics的免費試用ID，期限為一定期間。由於採小班制、實體形式，工作坊將結合實際畫面操作，詳細解說如何根據讀取的課題內容操作檢索條件、如何將其轉換為檢索式，以及如何根據檢索結果重新評估檢索條件等，以專利檢索競賽為想定情境，介紹PatSnap Analytics的操作方法。

何謂專利檢索競賽？

專利檢索競賽是一項針對指定課題，評比參賽者能否妥善檢索專利資訊並完整提取所需資訊能力的比賽。競賽中，準確理解課題內容的能力、將技術內容轉換為檢索詞或分類的能力、設計適當檢索條件的能力等，檢索方法本身是重要的評估對象。

何謂PatSnap Analytics？

PatSnap Analytics是由PatSnap公司提供的全球專利檢索與應用工具。

它收錄了世界各國的專利資訊，並支援日文檢索與日文顯示。具備簡易檢索、進階檢索、分類檢索、語義檢索等多種檢索方式，可依據目的進行專利檢索。本次工作坊將介紹PatSnap Analytics的基本使用方法。

工作坊舉辦概要

利用PatSnap Analytics的專利檢索競賽工作坊

舉辦日期：2026年6月5日 會場：日比谷圖書文化館（東京都千代田區） 舉辦形式：實體舉辦（面對面） 名額：20名（依報名先後順序） 參加費用：免費 主辦單位：中央光學出版株式會社 贊助單位：PatSnap 參加特典：PatSnap Analytics免費試用ID

※額滿後即停止報名。

報名與詳情

工作坊的詳細資訊及報名方式，請確認以下內容。

專利檢索競賽工作坊報名表 – 填寫表格

主辦單位概要

中央光學出版株式會社

事業內容：專利、技術資訊相關服務 備註：PatSnap產品日本國內正規經銷商 網址：https://www.cks.co.jp/

關於Patsnap

自2007年在新加坡創立以來，在國際投資者的支持下，成長為AI工具領域的全球企業。

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