シーシーエス株式会社 新聞稿

擴展針對奈米級微小缺陷的檢測解決方案

シーシーエス株式会社推出了「微分干涉單元」與「瞳分割偏光單元」，用於高速、高解析度地檢測半導體晶圓等表面的微小缺陷。這些單元相較於傳統專用設備，可將檢測時間縮短至約 1/8，實現更高效的檢測。 · 2026-05-20

CCS為日本西部客戶舉辦檢測解決方案私人展覽會

CCS株式會社將於2026年6月25日至26日在大阪舉辦「CCS OpenWorld in 大阪 2026」，這是一個針對日本西部製造業客戶的檢測解決方案私人展覽會。活動旨在透過尖端技術和合作夥伴的協… · 2026-05-11

CCS為日本西部客戶舉辦檢測解決方案私人展覽會

CCS株式會社將於2026年6月25日至26日在大阪舉辦「CCS OpenWorld in 大阪 2026」，這是一個針對日本西部製造業客戶的檢測解決方案私人展覽會。活動旨在透過尖端技術和合作夥伴的協… · 2026-05-11

CCS將為東海地區客戶舉辦汽車與半導體檢測解決方案展覽會

CCS株式會社將於2026年5月28日至29日，針對東海地區的汽車與半導體產業舉辦私人展覽會「CCS OpenWorld in 刈谷 2026」。活動將展示與合作夥伴協作的先進外觀檢測解決方案。 · 2026-04-06

CCS將為東海地區客戶舉辦汽車與半導體檢測解決方案展覽會

CCS株式會社將於2026年5月28日至29日，針對東海地區的汽車與半導體產業舉辦私人展覽會「CCS OpenWorld in 刈谷 2026」。活動將展示與合作夥伴協作的先進外觀檢測解決方案。 · 2026-04-06