ナノメートル単位の微細な欠陥に有効な検査ソリューションを拡充
シーシーエス株式会社は、半導体ウエハー等の微細な欠陥を高速・高精細に検査する光学ユニット「微分干渉ユニット」と「瞳分割偏光ユニット」を発売した。従来の専用機と比較して検査時間を約8分の1に短縮し、効率… · 2026-05-20
シーシーエス株式会社 ニュースリリース
シーシーエスが西日本のお客様に向けて、検査ソリューションのプライベート展示会を開催
シーシーエス株式会社は、2026年6月25日・26日に大阪で製造業向け検査ソリューションのプライベート展示会「CCS OpenWorld in 大阪 2026」を開催します。西日本のお客様の検査プロセ… · 2026-05-11
シーシーエスが西日本のお客様に向けて、検査ソリューションのプライベート展示会を開催
シーシーエス株式会社は、2026年6月25日・26日に大阪で製造業向け検査ソリューションのプライベート展示会「CCS OpenWorld in 大阪 2026」を開催します。西日本のお客様の検査プロセ… · 2026-05-11
シーシーエスが自動車・半導体検査ソリューションの展示会を 東海地方のお客様向けに開催
シーシーエス株式会社が、自動車・半導体業界向けの検査ソリューションのプライベート展示会「CCS OpenWorld in 刈谷 2026」を2026年5月28日〜29日に愛知県で開催します。 · 2026-04-06
シーシーエスが自動車・半導体検査ソリューションの展示会を 東海地方のお客様向けに開催
シーシーエス株式会社が、自動車・半導体業界向けの検査ソリューションのプライベート展示会「CCS OpenWorld in 刈谷 2026」を2026年5月28日〜29日に愛知県で開催します。 · 2026-04-06