AndTech 公司(總部:神奈川縣川崎市,代表取締役社長:陶山 正夫,以下簡稱 AndTech)將作為其研發支援 Zoom 講座的一部分,開設「半導體製程檢測與分析技術」講座,以應對日益增長的半導體製程檢測與分析技術的課題解決需求,並由該領域的權威講師授課。 演講者專攻物性物理學,並擁有在半導體製造商的設備開發經驗,將詳細介紹先進半導體的趨勢、未來所需的檢測與分析技術,特別是近年來積極開發的「利用光和電子進行的新型檢測方法」。 本講座預計於 2026 年 05 月 22 日開講。 詳情:https://andtech.co.jp/seminars/1f101a25-cbc4-647a-80ad-064fb9a95405

線上直播、網路研討會概要 ────────────────── 主題:半導體製程中的檢測與分析技術的整體概況與基礎原理,以及結合光與電子的新型分析技術的最新動態 舉辦時間:2026 年 05 月 22 日(星期五)13:00 - 16:30 參加費用:45,100 日圓(含稅)※ 資料將以電子形式發布。 網址:https://andtech.co.jp/seminars/1f101a25-cbc4-647a-80ad-064fb9a95405 網路直播形式:Zoom(報名後將發送 URL)

研討會內容結構 ──────────── — 課程與講師 — 東京大學 大學院新領域創成科學研究科/(前) Kioxia 藤原 弘和 先生

本研討會可學到的知識與可解決的技術課題 ─────────────────────── ・光學檢測設備、電子顯微鏡、探針顯微鏡等基本原理與特徵 ・半導體製程所需的檢測技術種類與特徵 ・半導體設備與製程的趨勢,以及最新的檢測與分析技術動態與未來展望

本研討會的參加形式 ───────────── 將透過網路會議工具「Zoom」進行線上直播研討會。 詳情將於報名後告知。

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  • 來源:PR TIMES
  • 分類:新聞