閎康第1季營收14.24億元,較去年同期成長15.03%,為歷年同期新高。

閎康指出,隨著半導體製程推進至2奈米,電晶體架構由鰭式場效電晶體(FinFET)轉向環繞閘極(GAA),須仰賴具次埃級解析度的穿透式電子顯微鏡(TEM)觀測原子級結構變化,並透過材料分析找出製程材料問題,以故障分析精準定位缺陷,提升良率,克服技術瓶頸。

閎康表示,因具備穿透式電子顯微鏡和二次離子質譜(SIMS)等先進分析技術,可望直接受惠這波AI帶動的半導體檢測需求成長商機。

此外,先進封裝涉及新材料與複雜異質介面,容易衍生新型態的瑕疵與失效模式。閎康指出,透過高解析度光學偵測分析平台等設備,能精準定位奈米級晶片缺陷位置,協助客戶加速排除製程問題並提升良率。

至於矽光子方面,閎康表示,為客戶矽光子研發活動建立標準化分析流程,協助加速自基礎元件開發至系統整合封裝全流程的研發活動,並在全球矽光子檢測領域居領先地位。(編輯:張良知)1150409

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  • 來源:中央社 CNA
  • 分類:調查
  • 相關組織:閎康
  • 原文日期:第1季 / 3月
  • 產品、服務:穿透式電子顯微鏡(TEM)分析 / 二次離子質譜(SIMS)分析