ZEISS、新型FIB-SEM「Crossbeam 750」を発表 ライブSEMイメージングによる高効率TEM薄膜作製と、Gemini 4電子光学系による高解像度観察を実現
ZEISSが新型FIB-SEM「Crossbeam 750」を発表。 · 2026-04-02
カールツァイス株式会社 ニュースリリース
ZEISS、新型FIB-SEM「Crossbeam 750」を発表 ライブSEMイメージングによる高効率TEM薄膜作製と、Gemini 4電子光学系による高解像度観察を実現
ZEISSが新型FIB-SEM「Crossbeam 750」を発表。 · 2026-04-02
ZEISS、新型FIB-SEM「Crossbeam 750」を発表 ライブSEMイメージングによる高効率TEM薄膜作製と、Gemini 4電子光学系による高解像度観察を実現
<p> カールツァイス株式会社（東京都千代田区麹町、代表取締役社長：ヴィンセント・マチュー）は、高精度な試料作製に最適化された新型集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM）、ZEISS Cros… · 2026-04-02