高屋株式會社 參展第二屆［關西］NEPCON JAPAN -電子開發・實裝展-【產業設備事業部/EMS事業部】

高屋株式會社（總部：岡山縣井原市井原町661-1 代表取締役社長：岡本 龍二）將於2026年5月13日（三）～15日（五）在INTEX OSAKA舉辦的第二屆［關西］NEPCON JAPAN -電子開發・實裝展- 中，以產業設備事業部及EMS事業部的聯合參展形式參加。

NEPCON JAPAN是亞洲最大規模的電子開發・實裝展。展覽會將展出支援電子設備多功能化、高性能化的世界最尖端電子零件、材料，以及製造、組裝、檢測設備。為引進、比較、探討最新技術，將有來自電子、半導體・感測器、電子零件、汽車・電子零件、航空・宇宙等領域的製造商前來參觀。

在本公司攤位，我們將展出飛針測試機的新標準機型APT-T400J（關西地區首次展出）以及高階機型APT-2600FD。

此次，作為產業設備事業部與EMS事業部的聯合參展，我們將採用一種展示結構，能夠直接介紹實際引進飛針測試機並正在現場運行的應用案例及現場聲音。您可以在現場諮詢引進時常有的不安與疑慮、引進後顯現的運行課題，以及引進後可獲得的具體效益。

此外，我們將首次發表與集團公司「高屋電子工業株式會社」的新產品「回載機（Return Loader）」，並與APT-T400J聯動進行展示。從檢測工序到其前後工序，您將能體驗到符合實際運用的解決方案。

您將能與具體的運行案例一同確認，在設備引進時容易面臨的課題及其解決的線索。正在考慮引進飛針測試機或優化生產體系的各位，請務必蒞臨高屋株式會社的攤位。

展出產品（飛針測試機）介紹

◆<標準機型> APT-T400J

APT-T400J 作為一款無需夾具即可對應多樣化基板的飛針測試機，繼承了高屋株式會社多年積累的高精度探針技術與穩定的測量性能，是一款標準機型。

在保持以往機型可靠性的同時，實現了更易於導入的價格區間，可在初期投資較少的同時實現高品質的基板電氣檢測。

【獨特的4頭・6飛針配置】
透過4根傾斜探針＋2根垂直探針，提高了對高密度零件間及向上連接器的可及性。

【高精度探針控制】
透過19段階的下降速度控制，實現符合基板狀態的最佳接觸。

【支援無夾具的分割式夾持機構】
對應特殊形狀的基板，縮短設定時間。

【標準搭載IC開路測試系統】
偵測IC內部的微小信號，檢測引腳浮動及BGA未接合不良。

APT-T400J 概要
APT-T400J - 全新標準機型誕生 | 高屋株式會社 產業設備事業部網站

APT-T400J 型錄下載
型錄下載表格 | 高屋株式會社 產業設備事業部網站

◆<高階機型> APT-2600FD

APT-2600FD 是一款雙面飛針測試機，同時使用上下飛針進行探測，實現最多6探針的組合檢測。

無需翻轉基板即可進行雙面接觸，同時提高了測試覆蓋率並降低了產品損壞風險。此外，透過多點同時檢測，可大幅縮短檢測時間。

具備高功能測量系統及多樣化檢測選項，是能對應日益複雜、高密度化基板檢測的高階機型。

【獨特的6頭・10飛針配置】
頂部配備4個頭部與6根飛針，底部配備2個頭部與4根飛針。

可實現雙面同時接觸，搭載高功能測量系統，為從試作到量產的品質提升做出貢獻。

【ZERO IMPACT 探針控制】
在探針接觸基板的瞬間，將動作速度降至零，最大限度減少對基板及零件的損壞。