タカノ將參加於6月10日至12日舉辦的「JPCA Show 2026」
タカノ株式會社將參加於2026年6月10日至12日在東京國際展示場（Tokyo Big Sight）舉辦的「JPCA Show 2026」。屆時將展出以ALTAX系列為主的檢測設備，特別聚焦於支援玻璃芯基板及光電融合等下一代技術的解決方案。
📋 文章處理履歷
- 📰 發表: 2026年5月21日 22:50
- 🔍 收集: 2026年5月21日 14:31
- 🤖 AI分析完成: 2026年5月21日 14:35（收集後3分鐘）
タカノ株式會社（總部：長野縣上伊那郡宮田村，代表取締役社長：鷹野 雅央）將參加於2026年6月10日（週三）至12日（週五）在東京國際展示場（Tokyo Big Sight）舉辦的「JPCA Show 2026」。
本次展出將以ALTAX（全面高度檢測裝置）為核心，展出用於封裝基板、玻璃基板及晶圓製造製程的檢測設備。
特別是針對備受矚目的玻璃芯基板及光電融合等下一代技術，公司提供了相應的檢測設備陣容，以滿足客戶廣泛的需求。
「JPCA Show 2026」展會概要
日期：2026年6月10日（週三）至12日（週五）
時間：10:00～17:00（最後一日至16:00止）
地點：東京國際展示場 東展示棟
主辦單位：RX Japan株式會社
攤位號碼：3F-42
官方網站：https://www.jpcashow.com/show2026/
參觀者預先登記：https://f-vr.jp/jpca/jpca2026/
展出產品資訊：
1. 2D/3D外觀檢測裝置 ALTAX-FS【面板展示】
適用於玻璃、晶圓、PKG基板等，可進行全面性檢測。
2. 晶圓專用全面高度檢測裝置 ALTAX-300EX【面板展示】
支援微凸塊（micro-bump）的先進最新機型。
其他產品：
・晶圓外觀檢測裝置（Vi系列）：高精度檢測配線圖案、裂紋及異物污染等。
・晶圓表面檢測裝置（WM+系列）：支援奈米級顆粒（異物）檢測的最新機型。
・全面膜厚不均檢測裝置（Thinspector）：透過單次掃描即可實現全面檢測。
・薄膜外觀檢測裝置（Hawkeyes系列）
本次展出將以ALTAX（全面高度檢測裝置）為核心，展出用於封裝基板、玻璃基板及晶圓製造製程的檢測設備。
特別是針對備受矚目的玻璃芯基板及光電融合等下一代技術，公司提供了相應的檢測設備陣容，以滿足客戶廣泛的需求。
「JPCA Show 2026」展會概要
日期：2026年6月10日（週三）至12日（週五）
時間：10:00～17:00（最後一日至16:00止）
地點：東京國際展示場 東展示棟
主辦單位：RX Japan株式會社
攤位號碼：3F-42
官方網站：https://www.jpcashow.com/show2026/
參觀者預先登記：https://f-vr.jp/jpca/jpca2026/
展出產品資訊：
1. 2D/3D外觀檢測裝置 ALTAX-FS【面板展示】
適用於玻璃、晶圓、PKG基板等，可進行全面性檢測。
2. 晶圓專用全面高度檢測裝置 ALTAX-300EX【面板展示】
支援微凸塊（micro-bump）的先進最新機型。
其他產品：
・晶圓外觀檢測裝置（Vi系列）：高精度檢測配線圖案、裂紋及異物污染等。
・晶圓表面檢測裝置（WM+系列）：支援奈米級顆粒（異物）檢測的最新機型。
・全面膜厚不均檢測裝置（Thinspector）：透過單次掃描即可實現全面檢測。
・薄膜外觀檢測裝置（Hawkeyes系列）
常見問題
Takano展出的亮點是什麼？
展出以ALTAX系列為中心的先進檢測設備，專門針對下一代玻璃芯基板與光電融合技術。
展覽地點在哪裡？
東京國際展示場（Tokyo Big Sight）東展示棟。
展覽需要門票費用嗎？
透過參觀者預先登記網站進行登記，即可免費入場。