高野公司將於「第14屆大阪薄膜科技日本展」展出超高速薄膜檢測與AI省力化解決方案

高野株式會社（總公司：長野縣上伊那郡宮田村，代表董事社長：鷹野 雅央）將於2026年5月13日（週三）至15日（週五）在大阪國際展覽中心舉行的「高功能材料週 大阪2026」中的「第14屆大阪薄膜科技日本展」中參展。

在生成式AI和5G/6G的背景下，高功能薄膜和半導體市場預計將持續活躍並面臨更高的品質要求。高野公司將抓住這一需求，進一步加強在電子材料、光學薄膜和能源等領域的銷售推廣。

本次展會將廣泛展出超高速無地薄膜檢測系統（展示機）、即時AI自動缺陷分類系統以及晶圓表面檢測設備等。高野檢測機的特色將在展位上讓您「看、觸摸、體驗」，歡迎蒞臨參觀。

展位形象

「第14屆大阪薄膜科技日本展」活動概要

* 舉辦日期：2026年5月13日（週三）～15日（週五） * 舉辦時間：10:00～17:00 * 舉辦地點：大阪國際展覽中心 * 主辦單位：RX Japan株式會社 * 展位號碼：K13-52

官方網站：https://www.material-expo.jp/osaka/ja-jp/visit/film.html 預先註冊可免費入場，請透過參觀者預先註冊網站申請。

▽展會邀請函申請（免費）網站請點擊此處 https://www.material-expo.jp/osaka/ja-jp/register.html

重點展出產品

【薄膜外觀檢測設備Hawkeyes系列】

Hawkeyes系列透過採用自主研發的相機、圖像處理單元和檢測演算法，實現了高功能薄膜市場（光學、電子材料、電池材料）的高速高精度檢測。

1. 超高速無地薄膜檢測系統 Hawkeyes one【面板展示】

超高速無地薄膜檢測系統 Hawkeyes one

透過採用自主研發的高性能相機和新開發的圖像處理單元，實現了業界最快等級（根據本公司調查）的檢測速度。可在高速生產線上設定高解析度以檢測微小缺陷。此外，還可以並行處理多個任務，進行多樣化的缺陷檢測。 URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/hawkeyesone/

2. 無地薄膜檢測系統 Hawkeyes ELITE【面板展示】

無地薄膜檢測系統 Hawkeyes ELITE

採用自主研發的高性能相機，支援高速生產線且具有優異的客製化能力，不僅能檢測多樣化的缺陷，還能應對各種形狀的產品。 URL： https://www.takano-kensa.com/kensa/products/hawkeyeselite/

3. 圖案薄膜檢測系統 Hawkeyes PATTERN【面板展示】

圖案薄膜檢測系統 Hawkeyes PATTERN

透過針對工件選擇合適的光學系統，可以檢測複雜佈線圖案、金屬網格圖案、電池電極等各種材質形狀的工件。此外，還會根據圖案形狀和目標缺陷選擇合適的圖像處理，以檢測缺陷。 URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/hawkeyespattern/

4. 即時AI自動缺陷分類系統 TAKANO AI【面板展示】

即時AI自動缺陷分類系統 TAKANO AI

將AI驅動的即時缺陷分類功能帶到您身邊。只需分配圖像，而非傳統的基於特徵的參數輸入，即可實現即時缺陷分類，操作簡單。 URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/column/ai-defect-classification-system/

5. 晶圓表面檢測設備 WM系列 【面板展示】

WM系列：WM-7SR+WM系列：WM-10R+

能夠對無圖案晶圓進行高靈敏度的顆粒檢測。光源採用半導體雷射，可降低運行成本。可用於晶圓檢測、製程控制、研究開發等。 URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/backend-inspection/wm/

6. 晶圓外觀檢測設備（Vi