羅德史瓦茲將舉辦線上 RF Testing Innovations Forum 2026，聚焦航太、防衛與衛星通訊測試挑戰

隨著衛星通訊與防衛系統持續擴大，RF 測試變得越來越重要且複雜。羅德史瓦茲將於 2026 年 5 月 20 日舉辦第 2 屆 RF Testing Innovations Forum 線上活動，由工程師與專家介紹因應當前高階應用的實務解決方案。 RF Testing Innovations Forum 2026 將邀請羅德史瓦茲、Dassault Systèmes、FormFactor、Focus Microwaves 的專家，針對當前 RF 測試面臨的課題進行演講。議程涵蓋多項主題，包括主動元件特性評估所需的殘餘量測，以及跨不同頻率的絕對相位驗證。 羅德史瓦茲 RF 與微波元件市場區隔經理 Markus Loerner 將以「航太與防衛專用元件的商業化」為題發表主題演講。他將說明衛星通訊與防衛應用擴張如何推升 RF 系統需求，並帶動高性能 RF 元件需求成長。演講也將比較相關 RF 子系統並推導測試需求，目標是縮短上市時程並提升效率。 另一場講座將聚焦絕對相位量測與校正的重要性。許多設計工程師容易忽略寬頻率範圍內絕對相位量測的重要性。本場次將介紹相位校正方法，聚焦梳狀波產生器及其可追溯性，並說明時間域轉換、頻率轉換器驗證，以及向量網路分析儀（VNA）相關考量等應用案例。 針對次 THz 頻段的晶圓上量測，隨著多 Gb 通訊系統邁向更高頻段，工程師必須擴展晶圓上 S 參數量測極限，以進行精準的元件建模與特性評估。來自德國德勒斯登 FormFactor 實驗室的現場示範，將使用 R&S ZNA 與最高 170 GHz 的頻率擴展模組，展示 D 頻段晶圓上量測中確保精度、穩定性與再現性的最佳實務，並說明量測環境中的關鍵判斷點。 最後一場講座將探討最高 67 GHz RF 電路的雜訊驗證。隨著低雜訊放大器（LNA）性能要求提高，精準且可靠的雜訊量測變得不可或缺，而 LEO 衛星通訊、遙測、量子運算等新興應用正加速這項需求。由於 LNA 通常位於接收器第一級，其雜訊特性會大幅影響整體系統的雜訊指數與靈敏度。演講將說明雜訊量測基本原理，以及使用冷源法萃取雜訊參數的方式，量測將採用具備雜訊指數量測功能的最新 R&S ZNA。 本次會議免費參加，但需事先註冊。詳細議程、講者資訊與註冊頁面請參考羅德史瓦茲官方網站。