羅德史瓦茲將於 5 月舉辦「從設計到驗證」電力電子線上會議
羅德史瓦茲將於 2026 年 5 月 5 日至 6 日舉行「從設計到驗證」線上會議，邀請產業界與學術界專家探討現代電力電子系統中的量測與驗證技術。
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- 📰 發表: 2026年4月27日 19:37
- 🔍 收集: 2026年4月27日 11:01
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羅德史瓦茲（Rohde & Schwarz）將於 2026 年 5 月 5 日和 6 日舉辦「從設計到驗證」（From Design to Validation）線上會議。來自產業界與學術界的專家將共同探討現代電力電子系統中可靠的量測與驗證方法。
圖說：羅德史瓦茲邀請電子設備開發人員與測試工程師參加「從設計到驗證」電力電子線上會議。
電力電子市場正受惠於更嚴格的效率目標、更高的功率密度，以及與大規模電網整合的進展而持續成長。因此，工程師必須應對非理想的元件特性、寬能隙（WBG）元件中的快速瞬態應力，以及日益嚴苛的 EMC（電磁相容性）要求。本次會議將透過使用最新示波器、向量網路分析儀和精密電力分析儀的量測中心解決方案來解決這些挑戰。
活動議程將於 5 月 5 日由 Hitachi Energy 的 Tobias Keller 發表基調演講「功率半導體：塑造未來電網——未來數十年的性能與可靠性」揭開序幕。他將重點介紹高壓電網應用中的矽（Si）及碳化矽（SiC）元件的合格性評估，特別是熱循環、短路耐受力與長期可靠性數據。
接著 5 月 6 日的基調演講將由 Infineon Technologies 的 Veit Hellwig 擔綱，探討氮化鎵（GaN）技術對高壓馬達變頻器拓撲結構的影響。
除了基調演講外，活動還安排了多場技術分組會議。其中一場會議將探討被動元件特性評估，說明在 100 MHz 以上頻率下提取寄生電感與寄生電容的方法，及其對轉換器穩定性的影響。另一場會議則介紹 SiC 及 GaN 功率元件的自動動態特性評估，展示如何透過雙脈衝測試裝置與高速數位轉換器的同步，降低量測不確定性並捕捉高速恢復行為。
電磁相容性（EMC）相關主題將分為兩場演講。第一場介紹利用近場探棒識別放射雜訊源，並驗證 EMI 濾波器設計有效性的實踐方法。第二場將展示針對小型原型的傳導發射量測工作流，利用線性阻抗穩定網路（LISN）與最新的混合訊號示波器進行演示。此外，還將說明利用時頻分析功能的濾波器設計方法。
在另一場網絡研討會中，將強調數據中心與 AI 伺服器電源供應器中高精度效率量測的重要性。利用能追蹤畸變波形及劇烈負載變動的精密電力分析儀，講解如何量測實際的輸入與輸出功率，以滿足 80 PLUS 認證要求。
最後一個議程將說明連接至低壓電網產品的諧波電流與電壓閃爍合規性。內容涵蓋 IEC/EN 61000-3-2/-3-3 及 IEC/EN 61000-3-12/-3-11 定義的限制值與測試程序，並展示如何透過電力分析儀與整合合規測試軟體的連動，從初期試作到最終認證自動進行合格判定。
講師陣容包含來自羅德史瓦茲、Hitachi、Infineon、PE-Systems、Würth Elektronik、布萊梅大學及薩拉戈薩大學的專家。這些演講融合了學術見解與產業實務經驗，為參加者提供理論背景與實踐量測方法的雙重收穫。
本次會議可免費參加，但需事先註冊。詳細議程、講者資訊及註冊請至以下網站：http://www.rohde-schwarz.com/power-electronics-conference
www.rohde-schwarz.com
聯繫方式：
歐洲（總部）：Christian Mokry（電話：+49 89 4129 13052，電子郵件：press@rohde-schwarz.com）
北美：Hannah Im（電話：+1 301 957-8357，電子郵件：hannah.im@rsa.rohde-schwarz.com）
亞太地區：Cheyenne
圖說：羅德史瓦茲邀請電子設備開發人員與測試工程師參加「從設計到驗證」電力電子線上會議。
電力電子市場正受惠於更嚴格的效率目標、更高的功率密度，以及與大規模電網整合的進展而持續成長。因此，工程師必須應對非理想的元件特性、寬能隙（WBG）元件中的快速瞬態應力，以及日益嚴苛的 EMC（電磁相容性）要求。本次會議將透過使用最新示波器、向量網路分析儀和精密電力分析儀的量測中心解決方案來解決這些挑戰。
活動議程將於 5 月 5 日由 Hitachi Energy 的 Tobias Keller 發表基調演講「功率半導體：塑造未來電網——未來數十年的性能與可靠性」揭開序幕。他將重點介紹高壓電網應用中的矽（Si）及碳化矽（SiC）元件的合格性評估，特別是熱循環、短路耐受力與長期可靠性數據。
接著 5 月 6 日的基調演講將由 Infineon Technologies 的 Veit Hellwig 擔綱，探討氮化鎵（GaN）技術對高壓馬達變頻器拓撲結構的影響。
除了基調演講外，活動還安排了多場技術分組會議。其中一場會議將探討被動元件特性評估，說明在 100 MHz 以上頻率下提取寄生電感與寄生電容的方法，及其對轉換器穩定性的影響。另一場會議則介紹 SiC 及 GaN 功率元件的自動動態特性評估，展示如何透過雙脈衝測試裝置與高速數位轉換器的同步，降低量測不確定性並捕捉高速恢復行為。
電磁相容性（EMC）相關主題將分為兩場演講。第一場介紹利用近場探棒識別放射雜訊源，並驗證 EMI 濾波器設計有效性的實踐方法。第二場將展示針對小型原型的傳導發射量測工作流，利用線性阻抗穩定網路（LISN）與最新的混合訊號示波器進行演示。此外，還將說明利用時頻分析功能的濾波器設計方法。
在另一場網絡研討會中，將強調數據中心與 AI 伺服器電源供應器中高精度效率量測的重要性。利用能追蹤畸變波形及劇烈負載變動的精密電力分析儀，講解如何量測實際的輸入與輸出功率，以滿足 80 PLUS 認證要求。
最後一個議程將說明連接至低壓電網產品的諧波電流與電壓閃爍合規性。內容涵蓋 IEC/EN 61000-3-2/-3-3 及 IEC/EN 61000-3-12/-3-11 定義的限制值與測試程序，並展示如何透過電力分析儀與整合合規測試軟體的連動，從初期試作到最終認證自動進行合格判定。
講師陣容包含來自羅德史瓦茲、Hitachi、Infineon、PE-Systems、Würth Elektronik、布萊梅大學及薩拉戈薩大學的專家。這些演講融合了學術見解與產業實務經驗，為參加者提供理論背景與實踐量測方法的雙重收穫。
本次會議可免費參加，但需事先註冊。詳細議程、講者資訊及註冊請至以下網站：http://www.rohde-schwarz.com/power-electronics-conference
www.rohde-schwarz.com
聯繫方式：
歐洲（總部）：Christian Mokry（電話：+49 89 4129 13052，電子郵件：press@rohde-schwarz.com）
北美：Hannah Im（電話：+1 301 957-8357，電子郵件：hannah.im@rsa.rohde-schwarz.com）
亞太地區：Cheyenne