AndTech宣布將於5月22日(週五)舉辦Zoom線上研討會：「半導體製程中檢測、分析技術的全貌與基礎原理，及結合光與電子的新分析技術最新趨勢」

AndTech株式會社（總部：神奈川縣川崎市，代表取締役社長：陶山 正夫，以下簡稱AndTech）作為支援R&D研發Zoom講座的一環，為回應近年來日益增長的解決半導體製程檢測與分析技術問題的需求，將開設由頂尖專家擔任講師的「半導體製程 檢測、分析技術」講座。

專攻凝聚態物理學並擁有在半導體製造商進行設備開發經驗的演講者，將詳細介紹尖端半導體趨勢、未來所需的檢測與分析技術，特別是近年來正在開發的「利用光與電子的新檢測方法」！

本講座預計於2026年5月22日開講。

詳情：https://andtech.co.jp/seminars/1f101a25-cbc4-647a-80ad-064fb9a95405

Live直播、WEB研討會講習會 概要 ────────────────── 主題：半導體製程中檢測、分析技術的全貌與基礎原理，及結合光與電子的新分析技術最新趨勢 舉辦日期與時間：2026年05月22日(週五) 13:00-16:30 參加費用：45,100日圓（含稅） ※ 資料預定以電子方式發送 URL：https://andtech.co.jp/seminars/1f101a25-cbc4-647a-80ad-064fb9a95405 WEB轉播形式：Zoom（報名後將發送URL）

研討會講習會內容構成 ──────────── ー議程、講師ー 東京大學　新領域創成科學研究科／(前)鎧俠　藤原 弘和 先生

透過本研討會可學習到的知識與能解決的技術課題 ─────────────────────── ・光學檢測設備、電子顯微鏡、探針顯微鏡等的基本原理與特徵 ・半導體製程中所需的檢測技術種類與特徵 ・半導體設備與製程趨勢，以及最新檢測、分析技術動向與未來展望

本研討會的受講形式 ───────────── 這將是使用WEB會議工具「Zoom」進行的線上Live直播研討會。 詳細資訊將於報名後通知。

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