產業技術綜合研究所、計量標準綜合中心（NMIJ）舉辦超過 20 年的「NMIJ 成果發表會」，自本年度起更名為「計量標準綜合中心、開放日」，並已於 2026 年 1 月 29 日舉行。本活動旨在向社會廣泛發布 NMIJ 一年來的研究成果，同時分享有助於未來與產業界及研究機構合作的計量技術。除了傳統的專題演講外，亦同步舉辦實驗室參觀與衛星活動，作為讓大眾能更親近計量標準與計量技術的機會。
本網路研討會針對當天無法親臨現場的各位，以系列 3 的形式，將 NMIJ 致力於實現奈米尺度世界可視化的最新計量技術，分為 5 個主題進行重播發布。
內容涵蓋半導體元件熱管理不可或缺的薄膜垂直與水平方向熱擴散率測定技術、為了精確掌握樣品資訊的多角度 SEM 觀察技術、品質管理與產線管理所要求的粒子徑即時（on-the-fly）計量技術、對應高速且多模態的放射光 X 光操作數（operando）多尺度分析技術，以及能從原子級晶格缺陷進行非破壞性檢測的陽電子空孔計量技術等，介紹產業界所需的最新計量技術趨勢。 對於希望評估半導體元件等薄膜材料者、想了解 SEM 觀察近期趨勢與注意事項者、想將各種粒子計量視覺化者、對電池材料或奈米材料等評估感興趣者，以及為了提升材料功能性或抑制劣化而需要進行空隙評估者，本內容將成為解決貴公司課題或創造新商機的靈感來源。誠摯期待各位的參與。
＜推薦給以下人士＞
・希望進行薄膜熱物性評估或半導體元件熱設計者
・希望提升 SEM 取得條件與解析方法水準者
・對即時、生產線等實用粒子計量感興趣者
・希望透過放射光 X 光進行高效且有效材料評估者
・希望評估材料中次奈米至奈米尺度空孔者
報名與詳情請點此
舉辦概要
日期與時間： 2026 年 4 月 13 日（星期一）10 時 00 分～11 時 30 分 2026 年 4 月 16 日（星期四）15 時 00 分～16 時 30 分
※兩日播放內容相同。
※結束時間可能會有前後變動。
參加費用：免費 收看方式：採線上直播。可透過瀏覽器收看。
＜議程＞ TOPIC 1：利用時間領域熱反射法開發薄膜垂直與水平方向熱擴散率測定技術 TOPIC 2：SEM/FIB-SEM 可見之物 ― 多角度材料評估與計量 TOPIC 3：視覺化之後 ― 支援品質管理與產線管理的粒度精密化技術與即時計量 TOPIC 4：X 光多尺度結構動力學觀察技術的開發 TOPIC 5：陽電子空孔計量的應用展開
＜諮詢事務局＞ AIST Solutions 活動營運負責人 E-mail：webmktg-eve-ml@aist-solutions.co.jp
AIST Solutions 今後也預計舉辦多樣化主題的網路研討會。 誠摯期待各位的參與。
EVENTS/WEBINARS
https://www.aist-solutions.co.jp/events_webinars/
FACT BOX · 重點整理
- 來源：PR TIMES
- 分類：event