由產業技術綜合研究所、計量標準綜合中心（NMIJ）舉辦超過20年的「NMIJ成果發表會」，今年度起更名為「計量標準綜合中心、開放日」，並於2026年1月29日舉行。本活動旨在向社會廣泛傳達NMIJ一整年的研究成果，並分享能につながる計測技術，以促進與產業界及研究機構的未來合作。除了以往的主題演講外，也同步舉辦了實驗室參觀及衛星活動，提供一個能更貼近感受計量標準與測量技術的機會。
本次網路研討會將針對無法親臨現場的各位，以系列3的形式，分五個主題重播產總研NMIJ致力於可視化奈米尺度世界的最新測量技術。
我們將介紹產業界所需的測量技術的最新動態，包括：半導體元件熱管理不可或缺的薄膜面直、面內方向熱擴散率測量技術；用於精確捕捉試料資訊的多角度SEM觀察技術；品質管理、生產線管理所需的粒子徑即時測量技術；高速且支援多模態的同步輻射X射線操作與多尺度分析技術；以及可從原子等級的晶格缺陷進行非破壞檢測的陽電子空孔測量技術等。對於希望評估半導體元件等薄膜材料、想了解SEM觀察的最新趨勢與注意事項、希望將各種粒子測量可視化、對電池材料或奈米材料的評估感興趣、以及需要空隙評估以提升材料功能性或抑制劣化的各位，本內容將為貴公司解決課題及開創新商機提供靈感。我們衷心期待您的參與。
＜推薦對象＞
・希望進行薄膜熱物性評估及半導體元件熱設計者
・希望提升SEM拍攝條件、判讀方法者
・對即時、生產線等實用粒子測量感興趣者
・希望透過同步輻射X射線進行有效率、有效性材料評估者
・希望評估材料中亞奈米～奈米尺度空孔者
點此報名與了解詳情
活動概要
日期與時間：
2026年4月13日（星期一）10:00～11:30
2026年4月16日（星期四）15:00～16:30
※兩日播放內容相同。
※結束時間可能略有前後。
參加費用：免費
觀看方式：線上直播。可透過瀏覽器觀看。
＜節目＞
TOPIC 1：
常見問題
What is the "National Metrology Institute of Japan Open Day"?
The "National Metrology Institute of Japan Open Day" is an event organized by the National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST) to showcase its research achievements in metrology and measurement technology, fostering collaboration with industry and research institutions.
What is the main focus of this specific webinar (Series 3)?
This webinar, Series 3, focuses on the latest measurement technologies for visualizing the nanoscale world, including techniques for thin films, SEM observation, particle size measurement, synchrotron X-ray analysis, and positron annihilation spectroscopy for void detection.
Who is the target audience for this webinar?
The webinar is recommended for professionals involved in thin film evaluation, semiconductor device thermal design, SEM observation, particle measurement, material evaluation using synchrotron X-rays, and void evaluation in materials.
Is there a participation fee for this webinar?
No, the participation fee for this webinar is free.
How can I watch the webinar?
The webinar will be broadcast online, and viewing is possible through a web browser.
